SPECTROLAB S 是斯派克旗舰台式直读光谱仪，核心优势在于分析精度。适用于对检出限与稳定性要求较高的场合：高纯金属、痕量杂质、科研及仲裁分析。
CMOS T 检测器
该技术为斯派克专利，将 CMOS 全谱采集与光电倍增管的时间分辨、单火花评价功能集成于同一检测器。其实际差异在于可记录每一颗火花的强度，既可获得全谱，亦可进行单火花统计，用于评定钢中夹杂物的含量与分布。
两个独立光室
第一套 120–240 nm（深紫外，750 mm 焦距，3600 线/mm 光栅），第二套 210–770 nm（750 mm 焦距，2400 线/mm 光栅），均为 CMOS 检测器，带恒温和压力补偿。
检出限与速度
相对上一代：低合金钢中元素平均检出限改善约 2 倍，纯铝约 5 倍，高纯铜痕量灵敏度提高约 30%。最短测量时间 12 秒，低合金钢完整分析 20 秒以内。
维护
陶瓷内芯火花台，气路经过优化，清理间隔延长约 8 倍；待机氩气消耗降低 50%；占地面积比前代小 27%。
适用于对分析精度要求较高的实验室；如日常分析以常规牌号判定为主，SPECTROMAXx 或 SPECTRO M.01 的性价比更高。
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